半導體特性曲線分析儀Z大集極電流10A/pulse 20A ，可測試高達2000V的掃描電壓和200pA/DIV的微小電流測 ，
半導體特性曲線分析儀可程式控制面板操作 (GPIB 標準介面),Z大集極電流10A(Pulse 40A)，5A/DIV
半導體特性曲線分析儀Z大集極電流10A( Pulse 20A)，2A/DIV,Z小集極電流200pA/DIV
寬量程、高分辨率、適用于系統(tǒng)測試的電阻計 ?廣范圍測量 Z低0.1μΩ(20.00mΩ)，Z高110MΩ ?快速采樣,Z快可達0.6ms (*根據(jù)設定條件的不同,會有差異) ?補正偏置電壓,用9451(Pt)/溫度探頭進行溫度補正功能 ?運用4端子測量技術(shù),測試線接觸電阻可忽略不計
DC微歐姆電阻表, 30m ~ 3M
高精密LCR測試儀 , 12 ~ 2kHz (245 steps)
